ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业前沿的创新技术，包括消色差补偿器、双旋转补偿器同步控制、穆勒矩阵数据分析等。 可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征...
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器， 通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干形成的反射谱，测量薄膜的厚度和光学常数。
SE-VM是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可实现科研/企业级高精度快速光谱椭偏测量，支持多角度，微光斑，可视化调平系统等高兼容性灵活配置，多功能模块定制化设计。
SE-VE是一款高性价比快速测量光谱椭偏仪。高性价比光学椭偏测量解决方案紧凑集成设计，使用简便，一键快速测量向导交互式人机界面，便捷的软件操作体验丰富的材料数据库和算法模型库，强大的数据分
